Mikroskopische Untersuchungen Archive - ticsonar | Labor- & Expertenservices

Durchlichtmikroskopie an Dünnschliffen

Max — Tue, 15 Oct 2024 14:46:57 +0000

Die GWP bietet Durchlichtmikroskopie an Dünnschliffen von Polymerwerkstoffen und faserverstärkten Kunststoffen. Diese präzise Analysetechnik eignet sich optimal zur Untersuchung des strukturellen Aufbaus dieser Materialien. Die lichtdurchlässigen Dünnschliffe oder Mikrotomschnitte ermöglichen eine detaillierte Betrachtung im polarisierten Durchlicht.

Dank der Nutzung von polarisiertem Licht können entscheidende Details im Material sichtbar gemacht werden, wie:

Verunreinigungen: Fremdstoffe und Einschlüsse lassen sich eindeutig identifizieren, was zur Qualitätssicherung beiträgt.
Schmelzfronten und Schweißgefüge: Die Analyse von Schweißnähten und Schmelzfronten hilft, die Integrität und Homogenität des Materials zu bewerten.
Korngrenzen: Diese sind essenziell für das Verständnis der Materialstruktur und beeinflussen die mechanischen Eigenschaften erheblich.
Sphärolite: Die Untersuchung kristalliner Strukturen in Polymeren liefert wertvolle Informationen über die Materialbeschaffenheit.

Die Durchlichtmikroskopie an Dünnschliffen ist daher eine unverzichtbare Methode, um die Mikrostruktur von Polymermaterialien genau zu analysieren und wichtige Rückschlüsse auf deren Herstellungsprozess und Qualität zu ziehen.

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Elektronenmikroskopie | REM Untersuchung

Max — Tue, 15 Oct 2024 14:46:01 +0000

Die GWP bietet umfassende Analysen von Festkörperoberflächen mithilfe des Rasterelektronenmikroskop (REM Untersuchung) an, die präzise und detaillierte Ergebnisse liefern. Dank der hohen Schärfentiefe des REM werden Oberflächenstrukturen bis ins kleinste Detail abgebildet. Dabei erzeugt eine Wolframkathode den Elektronenstrahl, der die Probe im Hochvakuum abrastert und Wechselwirkungsprodukte liefert, die wertvolle Informationen über die Oberflächenbeschaffenheit preisgeben.

Die REM Untersuchung bei GWP bietet vielfältige Anwendungsmöglichkeiten:

Bildgebung durch Sekundär- und Rückstreuelektronen-Kontrast: Diese Verfahren ermöglichen eine detaillierte Darstellung von Bruchflächen, Topographien und Materialkontrasten.
Hohe Auflösung im Nanometerbereich: Mit Vergrößerungen bis zu 50.000-fach werden selbst feinste Oberflächendetails sichtbar.
Niedervakuum-Betrieb: Proben können bei Drücken von 1 bis 270 Pa untersucht werden, sodass keine leitfähige Beschichtung erforderlich ist.
EDX-Elementanalyse: Durch den Silizium-Drift-Detektor lassen sich chemische Elemente der Probe sowohl qualitativ als auch semiquantitativ analysieren.
Große Probenkammer: Proben bis zu 200 mm Durchmesser, 70 mm Höhe und 2 kg Gewicht können untersucht werden.

Für die vielfältigen Einsatzmöglichkeiten stehen bei GWP verschiedene REM Detektoren zur Verfügung:

SE-Detektor (Sekundärelektronen): Eignet sich besonders zur Untersuchung von Oberflächenstrukturen wie Bruchflächen und Korrosion, da er Topographiekontraste erzeugt.
RE-Detektor (Rückstreuelektronen): Diese Technik zeigt Materialkontraste, da die Rückstreuelektronenenergie von der Materialdichte abhängt und Verunreinigungen sowie Schichtsysteme sichtbar macht.
EDX-Detektor (Energie-dispersive Röntgenspektroskopie): Ermöglicht chemische Analysen der Probe und bietet Funktionen wie Punktanalysen, Linescans und Mappings zur Verteilung von chemischen Elementen.

Da REM Bilder standardmäßig in Graustufen dargestellt werden, bietet die GWP eine professionelle Bildverarbeitung an, um diese Bilder nachträglich zu kolorieren. So werden spezifische Merkmale hervorgehoben, was besonders in der Medizintechnik und Pharmazie zur besseren Visualisierung von Details genutzt wird.

Mit der Rasterelektronenmikroskopie bei GWP sind präzise und vielseitige Untersuchungen möglich – ideal für Branchen wie die Materialwissenschaften, Medizintechnik und Pharmazie

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Lichtmikroskopie Gefügeuntersuchung am Schliff | Qualitative Gefügeanalyse

Max — Tue, 15 Oct 2024 14:45:10 +0000

Die GWP bietet als Dienstleistung die Qualitative Gefügeanalyse von Werkstoffgefügen durch Lichtmikroskopie an geätzten Schliffen an. Mit verschiedenen metallographischen Ätzverfahren macht sie die Mikrostruktur eines Werkstoffs sichtbar und ermöglicht so detaillierte Einblicke in dessen Eigenschaften.

Dank umfassender Erfahrung in der Präparation und Metallographie analysiert und interpretiert die GWP eine breite Palette von Werkstoffgefügen. Für Edelstahlproben beispielsweise wird das Ätzverfahren nach Lichtenegger & Bloech verwendet. Mit der Qualitative Gefügeanalyse lassen sich wichtige Gefügebestandteile wie das Primärgefüge (Seigerungen), das Sekundärgefüge (Austenit mit Zwillingsbildung) und der Deltaferrit-Anteil detailliert darstellen und bewerten.

Die Lichtmikroskopie ist besonders nützlich, um ein tiefes Verständnis der Materialeigenschaften zu gewinnen und qualitätsrelevante Merkmale wie Korrosionsanfälligkeit oder Festigkeit zu identifizieren. Die GWP setzt ihre Expertise gezielt ein, um präzise und fundierte Gefügebewertungen sicherzustellen.

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Mikroskopische Schichtdickenmessung DIN EN ISO 1463

Max — Thu, 13 Jun 2024 12:26:48 +0000

Die mikroskopische Schichtdickenmessung gemäß DIN EN ISO 1463 ist eine standardisierte Methode zur Bestimmung der Dicke von Schichten und Beschichtungen auf einem Substrat mittels mikroskopischer Verfahren. Diese Methode wird häufig zur Messung der Dicke von galvanischen, anodischen und chemisch abgeschiedenen Schichten sowie von Lacken und anderen Beschichtungen verwendet. Sie wird auch bei der Messung von Oxidschichten verwendet.

Die Probe muss einen Querschnitt der zu messenden Schicht enthalten. Dazu wird die Probe typischerweise eingebettet, geschliffen und poliert, um eine geeignete Oberfläche für die mikroskopische Untersuchung zu erhalten. Die Einbettung erfolgt in einem Kunststoff, um die Probe während des Schleifens und Polierens zu stabilisieren.

Die präparierte Probe wird unter einem Lichtmikroskop untersucht. Dabei wird der Querschnitt der Schicht betrachtet, um die Schichtdicke zu messen.
Es wird eine geeignete Vergrößerung gewählt, um die Schicht deutlich darzustellen und die Grenzfläche zwischen Schicht und Substrat klar zu erkennen.
Messung der Schichtdicke:

Die Dicke der Schicht wird entlang einer Linie senkrecht zur Schichtoberfläche gemessen. Es können mehrere Messungen an verschiedenen Stellen der Probe durchgeführt werden, um einen Mittelwert zu bilden. Die Messungen werden in der Regel mit digitaler Bildanalyse-Software durchgeführt.

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