Während des EDX Mapping erzeugt der Elektronenstrahl charakteristische Röntgenstrahlen, die vom Silizium-Drift-Detektor gemessen werden. So lassen sich spezifische Elemente im Material nachweisen und ihre Verteilung in Form von Farbbildern darstellen. Diese Methode ist besonders nützlich für Anwendungen, bei denen es auf die genaue Lokalisierung von Elementen ankommt, etwa in der Materialwissenschaft, Geologie und Elektronik.

Durch REM EDX Elementverteilungsbilder können:

• Inhomogenitäten und Verunreinigungen identifiziert werden, die Rückschlüsse auf die Materialqualität zulassen.
• Schichtstrukturen und Diffusionsprozesse visualisiert werden, was in der Forschung und Entwicklung hilfreich ist.
• Materialzusammensetzungen detailliert analysiert werden, um spezifische Anteile von Legierungselementen oder Verbindungen darzustellen.

Diese Methode ermöglicht es, die chemische und strukturelle Zusammensetzung von Werkstoffen präzise und anschaulich zu dokumentieren.

Weitere Leistungen der GWP unter GWP Gesellschaft für Werkstoffprüfung mbH – ticsonar oder GWP: Werkstoffprüfung 

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Dank der hohen Empfindlichkeit der ICP-OES können Nachweisgrenzen im Bereich von 1 bis 100 ppm (parts per million) erreicht werden. Diese Leistungsfähigkeit macht die Methode besonders wertvoll in der metallurgischen Analyse, Umweltüberwachung, Lebensmittel- und Wasseranalytik sowie in der Materialforschung.

Die Funktionsweise der ICP-OES beruht auf der Erzeugung eines Plasma, das durch ein hochfrequentes elektromagnetisches Feld aufrechterhalten wird. Die Proben werden in das Plasma injiziert, wo sie ionisiert und angeregt werden. Die dabei emittierte Strahlung wird von einem Spektrometer erfasst, das die spezifischen Wellenlängen der emittierten Photonen analysiert. Dies ermöglicht die Identifizierung und Quantifizierung der Elemente in der Probe basierend auf ihren charakteristischen Emissionsspektren.

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