Die REM Untersuchung bei GWP bietet vielfältige Anwendungsmöglichkeiten:

• Bildgebung durch Sekundär- und Rückstreuelektronen-Kontrast: Diese Verfahren ermöglichen eine detaillierte Darstellung von Bruchflächen, Topographien und Materialkontrasten.
• Hohe Auflösung im Nanometerbereich: Mit Vergrößerungen bis zu 50.000-fach werden selbst feinste Oberflächendetails sichtbar.
• Niedervakuum-Betrieb: Proben können bei Drücken von 1 bis 270 Pa untersucht werden, sodass keine leitfähige Beschichtung erforderlich ist.
• EDX-Elementanalyse: Durch den Silizium-Drift-Detektor lassen sich chemische Elemente der Probe sowohl qualitativ als auch semiquantitativ analysieren.
• Große Probenkammer: Proben bis zu 200 mm Durchmesser, 70 mm Höhe und 2 kg Gewicht können untersucht werden.

Für die vielfältigen Einsatzmöglichkeiten stehen bei GWP verschiedene REM Detektoren zur Verfügung:

• SE-Detektor (Sekundärelektronen): Eignet sich besonders zur Untersuchung von Oberflächenstrukturen wie Bruchflächen und Korrosion, da er Topographiekontraste erzeugt.
• RE-Detektor (Rückstreuelektronen): Diese Technik zeigt Materialkontraste, da die Rückstreuelektronenenergie von der Materialdichte abhängt und Verunreinigungen sowie Schichtsysteme sichtbar macht.
• EDX-Detektor (Energie-dispersive Röntgenspektroskopie): Ermöglicht chemische Analysen der Probe und bietet Funktionen wie Punktanalysen, Linescans und Mappings zur Verteilung von chemischen Elementen.

Da REM Bilder standardmäßig in Graustufen dargestellt werden, bietet die GWP eine professionelle Bildverarbeitung an, um diese Bilder nachträglich zu kolorieren. So werden spezifische Merkmale hervorgehoben, was besonders in der Medizintechnik und Pharmazie zur besseren Visualisierung von Details genutzt wird.

Mit der Rasterelektronenmikroskopie bei GWP sind präzise und vielseitige Untersuchungen möglich – ideal für Branchen wie die Materialwissenschaften, Medizintechnik und Pharmazie

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Während des EDX Mapping erzeugt der Elektronenstrahl charakteristische Röntgenstrahlen, die vom Silizium-Drift-Detektor gemessen werden. So lassen sich spezifische Elemente im Material nachweisen und ihre Verteilung in Form von Farbbildern darstellen. Diese Methode ist besonders nützlich für Anwendungen, bei denen es auf die genaue Lokalisierung von Elementen ankommt, etwa in der Materialwissenschaft, Geologie und Elektronik.

Durch REM EDX Elementverteilungsbilder können:

• Inhomogenitäten und Verunreinigungen identifiziert werden, die Rückschlüsse auf die Materialqualität zulassen.
• Schichtstrukturen und Diffusionsprozesse visualisiert werden, was in der Forschung und Entwicklung hilfreich ist.
• Materialzusammensetzungen detailliert analysiert werden, um spezifische Anteile von Legierungselementen oder Verbindungen darzustellen.

Diese Methode ermöglicht es, die chemische und strukturelle Zusammensetzung von Werkstoffen präzise und anschaulich zu dokumentieren.

Weitere Leistungen der GWP unter GWP Gesellschaft für Werkstoffprüfung mbH – ticsonar oder GWP: Werkstoffprüfung 

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• Die Gefüge moderner Werkstoffe werden zunehmend komplexer
• Eine Charakterisierungsmethode allein kann diese Komplexität oft nicht mehr vollständig erfassen
• Jede Charakterisierungsmethode hat ihre Vor- und Nachteile
• Kombination mehrerer Methoden: Nachteile einer bestimmten Methode können überwunden werden, die Vorteile mehrere Methoden kombiniert werden, sowie Informationen über mehrere Skalen hinweg und aus verschiedenen komplementären Informationsquellen zusammengeführt werden

Typisches Anwendungsbeispiel:

• In einem korrelativen Ansatz werden höher aufgelöste Methoden (z.B. Rasterelektronenmikroskop) verwendet, um zusätzliche Informationen zu erhalten und darüber Referenzen zu schaffen
• Diese korrelative Charakterisierung wird nur für einen Bruchteil der Untersuchungen benötigt.
• Die gewonnenen Erkenntnisse und Referenzen ermöglichen für eine Serienauswertung eine Reduzierung auf die einfachste Methode des korrelativen Ansatzes (z.B. Lichtmikroskop)

Was wir anbieten:

• Korrelative Charakterisierung mittels Lichtmikroskop LM, Rasterelektronenmikroskop REM, Elektronenrückstreubeugung EBSD, energiedisperser Röntgenspektroskopie EDX
• Erstellen von Gefügekatalogen
• Benchmarken von Farbätzungen zur LM Auswertung
• Einsatz korrelativer Untersuchungen für das Anwenden von maschinellem Lernen

-> Anwenden der geschaffenen Referenzen für eine bessere, objektivere und reproduzierbare Zuordnung der Grundwahrheit

-> Welche Klassifizierungsgenauigkeiten können mit verschiedenen Methoden erreicht werden? Welche Methode ist für bestimmte Fragestellungen notwendig/ ausreichend?

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