Spurenanalyse mittels optischer Emissionsspektrometrie (ICP-OES)
Die optische Emissionsspektrometrie (ICP-OES) mit induktiv gekoppeltem Argonplasma ist die bevorzugte Methode für die Elementanalytik in einer Vielzahl von Anwendungen. Diese hochpräzise Technik ermöglicht die quantitative Analyse von nahezu allen Elementen des Periodensystems, wobei bis zu 60 verschiedene Elemente gleichzeitig erfasst werden können.
Dank der hohen Empfindlichkeit der ICP-OES können Nachweisgrenzen im Bereich von 1 bis 100 ppm (parts per million) erreicht werden. Diese Leistungsfähigkeit macht die Methode besonders wertvoll in der metallurgischen Analyse, Umweltüberwachung, Lebensmittel- und Wasseranalytik sowie in der Materialforschung.
Die Funktionsweise der ICP-OES beruht auf der Erzeugung eines Plasma, das durch ein hochfrequentes elektromagnetisches Feld aufrechterhalten wird. Die Proben werden in das Plasma injiziert, wo sie ionisiert und angeregt werden. Die dabei emittierte Strahlung wird von einem Spektrometer erfasst, das die spezifischen Wellenlängen der emittierten Photonen analysiert. Dies ermöglicht die Identifizierung und Quantifizierung der Elemente in der Probe basierend auf ihren charakteristischen Emissionsspektren.
