DIN EN ISO 25178-1 | 3D-Oberflächenmessung
Die DIN EN ISO 25178-1 ist eine internationale Norm, die sich mit den Geometrischen Produktspezifikationen (GPS) zur 3D-Oberflächenmessung befasst. Sie legt die grundlegenden Begriffe und Definitionen für die Oberflächenmessung fest und beschreibt die allgemeinen Anforderungen an die Messmethoden für topografische Oberflächen.
Diese Norm ist speziell auf die 3D-Messung von Oberflächenprofilen ausgelegt und bietet eine Grundlage für die Bestimmung von Oberflächenparametern wie der Raumrauheit (z. B. Sa, Sz, Ssk) und anderen wichtigen topografischen Kennwerten. Sie ist besonders wichtig in der Präzisionsfertigung, der Oberflächenwissenschaft und der Werkstoffprüfung, um die Oberflächenqualität und das Verhalten von Materialien unter verschiedenen Bedingungen zu charakterisieren.
GWP bietet die Durchführung von Prüfungen gemäß DIN EN ISO 25178-1 an, um detaillierte 3D-Oberflächenmessungen durchzuführen und eine präzise Analyse der Oberflächentopografie zu gewährleisten. Diese Prüfungen sind entscheidend für Anwendungen, bei denen die Oberflächenstruktur und deren Einfluss auf die Funktionalität eine Rolle spielen, wie z. B. in der Mikroelektronik, der Optik und der Medizintechnik.
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